6433P光波元件分析儀

（調(diào)制頻率范圍覆蓋： 10MHz~110GHz）

一、6433P光波元件分析儀概述

6433P 光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調(diào)制特性測(cè)試的儀器，頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測(cè)試、電光測(cè)試、光電測(cè)試及光光測(cè)試4種測(cè)試模式，6433P 光波元件分析儀具有對(duì)數(shù)/線性幅度、相位、群時(shí)延、Smith圓圖、極坐標(biāo)等多種顯示格式，能夠精確測(cè)量光電網(wǎng)絡(luò)的幅/相頻特性，主要應(yīng)用于高速電光器件（電光強(qiáng)度調(diào)制器、直接調(diào)制激光器、光發(fā)射組件）、光電器件（探測(cè)器、光發(fā)射組件、探測(cè)器芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時(shí)延等頻響參數(shù)的測(cè)試。

二、6433P 光波元件分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)

• 10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋；

• 頻率分辨率1Hz；

• 測(cè)試功能豐富，具備傳輸、反射等多種參數(shù)測(cè)試功能；

• 一體化多功能測(cè)試界面；

• 向?qū)叫?zhǔn)及一鍵式快速掃頻測(cè)試；

• 多窗口顯示及快速分析；

• 自動(dòng)夾具移除，快速獲取探針數(shù)據(jù)；具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試

三、6433P 光波元件分析儀功能描述

• 10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋

6433P 光波元件分析儀調(diào)制頻率高達(dá)110GHz，頻率分辨率為1Hz，可實(shí)現(xiàn)高速寬頻帶光器件及光芯片調(diào)制特性測(cè)試

• 一體化多功能測(cè)試向?qū)Ы缑?/span>

6433P 光波元件分析儀具備電電、電光、光電、光光四種測(cè)量模式，功能模式之間可任意切換，可滿足光器件的S參數(shù)、阻抗、時(shí)域等參數(shù)測(cè)量需求。一體化多功能界面方便用戶快速完成測(cè)量模式、光波參數(shù)、光路去嵌入?yún)?shù)、射頻去嵌入等參數(shù)的設(shè)置。

• 向?qū)叫?zhǔn)及一鍵式測(cè)試

6433P 光波元件分析儀進(jìn)行微波域的電電校準(zhǔn)及光波域的光路校準(zhǔn)時(shí)，采用向?qū)叫?zhǔn)，方便用戶對(duì)儀器進(jìn)行快速校準(zhǔn)，獲得被測(cè)件準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。同時(shí)采用一體化集成設(shè)計(jì)方案，利用核心算法，實(shí)現(xiàn)電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃頻測(cè)試。

• 多窗口快速顯示及分析

6433P 光波元件分析儀支持64個(gè)測(cè)量通道，32個(gè)測(cè)量窗口，每個(gè)窗口可同時(shí)顯示16條測(cè)試軌跡，可實(shí)現(xiàn)結(jié)果的多窗口、多格式顯示。

高分辨率多點(diǎn)觸控電容屏可快速實(shí)現(xiàn)各種輸入和選擇操作，快捷高效，便于用戶快速分析數(shù)據(jù)，為用戶提供全新的光波元件分析儀操作體驗(yàn)。

• 自動(dòng)夾具移除，快速獲取探針數(shù)據(jù)

6433P 光波元件分析儀利用自動(dòng)夾具移除功能可快速解決光芯片S參數(shù)測(cè)試難題。測(cè)試時(shí)，將高頻探針等效為夾具，通過自動(dòng)夾具移除功能測(cè)量高頻探針的時(shí)域參數(shù)，利用信號(hào)流圖提取頻域參數(shù)，形成s2p文件，進(jìn)而通過射頻去嵌入，實(shí)現(xiàn)光芯片的高精度S參數(shù)測(cè)試。

四、6433P 光波元件分析儀產(chǎn)品參數(shù)

五、6433P 光波元件分析儀典型應(yīng)用

• 單端光器件測(cè)試

針對(duì)電光調(diào)制器、直接調(diào)制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測(cè)試，利用多窗口顯示可快速獲取測(cè)試對(duì)象的各頻點(diǎn)反射和傳輸特性；針對(duì)光電探測(cè)器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數(shù)和S21參數(shù)測(cè)試，利用光標(biāo)功能可快速分析3dB帶寬，評(píng)估器件的頻響特性；針對(duì)光纖濾波器等光光器件的S21參數(shù)測(cè)試，可快速實(shí)現(xiàn)損耗、平坦度等指標(biāo)的測(cè)量。

幅頻特性測(cè)試）

利用儀器提供的多種顯示模式,可實(shí)現(xiàn)相位、群時(shí)延等信息的顯示，可快速實(shí)現(xiàn)相頻特性等指標(biāo)的測(cè)量。

（相頻特性測(cè)試）

• 平衡光器件測(cè)試

光波元件分析儀通過配置四端口機(jī)型，實(shí)現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收器件對(duì)差分增益和共模抑制參數(shù)的測(cè)試需求，更加貼合現(xiàn)有和未來(lái)高速光纖通信領(lǐng)域中多端口參數(shù)的測(cè)量場(chǎng)合。

• 光芯片在片測(cè)試

6433P 光波元件分析儀搭配探針臺(tái)及高頻探針，可實(shí)現(xiàn)電光/光電芯片的頻響參數(shù)的測(cè)試。

• 自動(dòng)化測(cè)試

6433P 光波元件分析儀提供標(biāo)準(zhǔn)的SCPI程控指令集，方便用戶進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。通過網(wǎng)口，只需完成設(shè)備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可實(shí)現(xiàn)一體化的自動(dòng)測(cè)試方案，方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數(shù)字源表及被測(cè)件等共同搭建光芯片測(cè)試系統(tǒng)。